bannerbanner
logo

Владимир Тимофеевич Бублик

Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
0
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формиров…
Подробнее
Вход В личный кабинетРегистрация