bannerbanner
logo

Борис Борисович Кольцов

Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть 1. Сканирующая зондовая микроскопия
0
Пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены вопросы примене…
Подробнее
Вход В личный кабинетРегистрация