Ольга Михайловна Жигалина
Жанры и тэги:
Материалы микроэлектроники: тонкие пленки для интегрированных устройств
Изложены основные понятия, относящиеся к науке о строении и свойствах сегнетоэлектрических материалов. Рассмотрены примеры применения и перспективы ис…
Подробнее
Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии. Методические указания к выполнению лабораторной работы
Рассмотрены способы пробоподготовки объектов в просвечивающем электронном микроскопе, основные режимы работы микроскопа, методы расчета электронограмм…
Подробнее
Анализ дефектов кристаллического строения металлов. Методические указания к семинарам
Рассмотрены методы расчета основных характеристик точечных и линейных дефектов кристаллического строения металлов, дислокационные реакции для металлов…
Подробнее
Кристаллографический анализ структуры металлов. Методические указания к семинарам
Рассмотрены методы построения стереографических проекций, решение базовых задач кристаллографического анализа структуры материалов с применением сетки…
Подробнее