Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Издательство:
Автор
Жанры:
программирование,естественные науки,математика,цифровые технологии,тестирование,модели и методики,алгоритмыКниги этой серии:
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
