Название книги:

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Автор:
В. Б. Шувалов
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

000

ОтложитьЧитал

Cкачать книгу бесплатно :

Cкачать pdf
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

Издательство:
Синергия
Книги этой серии: