Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов
Издательство:
Автор
Метки:
контроль качества,инженерно-техническая деятельность,аналоговая схемотехника,радиоэлектроника,МикросхемыЖанры:
учебная и научная литература,монографии,радиотехника,контроль качества,аналоговая схемотехника,инженерно-техническая деятельность,знания и навыки,радиоэлектроника,микросхемыКниги этой серии:
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.
Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам вузов, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».