Александр Андреевич Величко
Жанры и тэги:
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть 2
Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов иссл…
Подробнее
Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии
Дано краткое описание способа измерения ширины запрещенной зоны и толщины гетероэпитаксиальных узкозонных полупроводников методом определения спектрал…
Подробнее