logo

Александр Андреевич Величко

Самое популярноеОтзывыНовое
Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии
0
Дано краткое описание способа измерения ширины запрещенной зоны и толщины гетероэпитаксиальных узкозонных полупроводников методом определения спектрал…
Подробнее
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть 2
0
Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов иссл…
Подробнее
Вход В личный кабинетРегистрация